| Jahr |
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| 1889 |
Gründung der Metallätzerei W. HEIDENHAIN in Berlin |
| 1923 |
Dr. Johannes Heidenhain tritt in das väterliche Unternehmen ein |
| 1936 |
Photomechanisch kopierter Glasmaßstab mit Genauigkeit ± 0,015 mm |
| 1943 |
Kopierter Teilkreis mit Genauigkeit ± 3 Sekunden |
| 1948 |
Neubeginn der Firma DR. JOHANNES HEIDENHAIN in Traunreut |
| 1950 |
Erfindung des DIADUR-Verfahrens: Herstellung widerstandsfähiger Präzisionsteilungen auf Glas durch Kopie einer Originalteilung |
| 1952 |
Waagenskalen werden Hauptumsatzträger |
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Optische Längenmessgeräte für Werkzeugmaschinen |
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Optische Winkelmessgeräte |
| 1957 |
Photoelektrisches Winkelmessgerät ROD 1 mit 40.000 Signalperioden/U, 10.000 Striche |
| 1961 |
Photoelektrisches Messmikroskop |
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Inkrementales Längenmessgerät LID 1, Teilungsperiode 8 µm / Messschritt 2 µm |
| 1962 |
ROD 1 mit 72.000 Signalperioden/U |
| 1963 |
Code-Längenmessgerät LIC mit 18 Spuren, Dual-Code / Messschritt 5 µm |
| 1964 |
Inkrementale Standard-Drehgeber der Baureihen ROD 2 / ROD 4 |
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Absolutes Winkelmessgerät ROC 15 / Auflösung 17 Bit |
| 1965 |
Laser-Interferometer zur Vermessung von Werkzeugmaschinen |
| 1966 |
Interferenzkomparator für die Physikalisch-Technische Bundesanstalt PTB |
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Gekapseltes inkrementales Längenmessgerät LIDA 55.6 mit Stahlmaßstab |
| 1967 |
Freitragende Gitter, Mikrostrukturen |
| 1968 |
Vor-/Rückwärtszähler VRZ 59.4 für 1 Achse |
| 1970 |
Gründung der gemeinnützigen DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG GmbH |
| 1971 |
Winkelmesstisch und Teilkreis-Prüfgerät für die PTB |
| 1974 |
Numerische Positionsanzeige HEIDENHAIN 5041 |
| 1975 |
Inkrementales Längenmessgerät LS 500 mit Glasmaßstab, Messlänge bis 3 m, Messschritt 10 µm |
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Inkrementales Winkelmessgerät ROD 800, Genauigkeit ± 1 Sekunde |
| 1976 |
Numerische Positioniersteuerungen TNC 110 und TNC 120 für 3 Achsen |
| 1977 |
Inkrementales Längenmessgerät LIDA 300, Messlänge bis 30 m |
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Präzisions-Goniometer für die PTB |
| 1979 |
Numerische Streckensteuerungen TNC 131 / TNC 135 |
| 1980 |
Tod von Dr. Johannes Heidenhain |
| 1981 |
Inkrementaler Drehgeber ROD 426, der Industriestandard |
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Numerische Bahnsteuerung für 3 Achsen TNC 145 |
| 1984 |
Numerische Bahnsteuerung für 4 Achsen TNC 155, grafische Simulation der Werkstück-Bearbeitung |
| 1985 |
Abstandscodierte Referenzmarken für inkrementale Maßstäbe |
| 1986 |
Phasengitter-Maßstäbe |
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Inkrementales Winkelmessgerät RON 905, Genauigkeit ± 0,2 Sekunden |
| 1987 |
Interferentielles offenes Längenmessgerät LIP 101, Messschritt 0,02 µm |
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Absoluter Multiturn-Drehgeber ROC 221 S, 12 Bit Singleturn, 9 Bit Multiturn |
| 1989 |
Interferentielles offenes Längenmessgerät LIP 301, Messschritt 1 nm |
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Winkelmessgeräte für das New Technology Telescope NTT |
| 1992 |
Zweidimensionales interferentielles Längenmessgerät PP 109R |
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Inkrementale Einbau-Drehgeber ERN 1300 für Arbeitstemperaturen bis 120 °C |
| 1993 |
Absolute Singleturn und Multiturn Drehgeber ECN 1300 und EQN 1300 |
| 1994 |
Absolutes Längenmessgerät LC 181 mit 7 Spuren, EnDat-Schnittstelle, Messlänge bis 3m, Messschritt 0,1 µm |
| 1995 |
Flächige Kreuzgitter für 2-Koordinaten-Messgeräte |
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Synchron-serielle Schnittstelle EnDat für absolute Positionsmessgeräte |
| 1996 |
Absolutes Längenmessgerät LC 481 mit 2 Spuren, PRC, EnDat, Messlänge bis 2 m |
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Bahnsteuerung TNC 426 mit digitaler Antriebsregelung für 5 Achsen |
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HEIDENHAIN Gesamtpaket TNC 410 MA mit Umrichter und Motoren |
| 1997 |
Absolutes Winkelmessgerät mit integrierter Statorkupplung in Hohlwellenausführung RCN 723, 23 Bit Singleturn, EnDat-Schnittstelle, Genauigkeit ± 2 Sekunden |
| 1999 |
Winkelmessgeräte für das Very Large Telescope VLT |
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Maßstäbe für den internationalen NANO-3-Längenmessvergleich zwischen zahlreichen nationalen Metrologie-Instituten |
| 2000 |
Interferentielles Winkelmessgerät ERP 880 mit 180.000 Signalperioden/U, Genauigkeit ± 0,2 Sekunden |
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Miniaturisierter absoluter Multiturn Drehgeber EQN 1100 in Chip-On-Board Technik |
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Absoluter Singleturn-Drehgeber ECN 100 mit Hohlwellendurchmesser bis 50 mm |
| 2001 |
Nanometer-Interferenzkomparator für die PTB |
| 2002 |
Planare Phasengitterstrukturen für interferentielle Längenmessgeräte |
| 2003 |
Winkelmessvergleich zwischen HEIDENHAIN, PTB und AIST (staatliches japanisches Forschungsinstitut) |
| 2004 |
Längenmessvergleich zwischen HEIDENHAIN, PTB und MITUTOYO |
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Winkelmessgeräte für das GRANTECAN Teleskop (Gran Telescopio CANARIAS) |
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Absolutes Winkelmessgerät RCN 727 mit Hohlwellendurchmesser bis 100 mm |
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Miniaturisierte absolute Singleturn und Multiturn Drehgeber ECI 1100 und EQI 1100 (mit induktiver Abtastung) |
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Bahnsteuerung iTNC 530 mit alternativer Betriebsart smarT.NC |
| 2005 |
Winkelmessvergleich zwischen HEIDENHAIN und PTB |
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Verschmutzungsunempfindliche, mittels Laserablation herstellbare Amplitudengitter |
| 2007 |
Winkelmessgeräte für die 25 europäischen ALMA Antennen (Atacama Large Telescope Array) |
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Absolute Drehgeber mit “Functional Safety” SIL2/PL d und EnDat 2.2-Interface |
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Bahnsteuerung TNC 620 mit HSCI, dem seriellen Controller-Interface |
| 2008 |
Interferentielles Längenmessgerät LIP 200 mit Signalperiode 0,512 µm, für Verfahrgeschwindigkeiten bis 3 m/s |
| 2009 |
Großflächige Kreuzgitter (400 mm x 400 mm) für Messsysteme in der Halbleiterindustrie |
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Interferentielles Winkelmessgerät ROP 8080, für Waferprober, Kombination Lastlager und Winkelmessgerät, 360.000 Signalperioden/U |
| 2010 |
Absolutes offenes Längenmessgerät LIC 4000 mit 2 Spuren, PRC, EnDat 2.2 für Messlängen bis 27 m und Auflösung 1 nm |
| 2011 |
Absolutes Längenmessgerät LC 200, Messlänge bis 28 m, PRC, Messschritt 10 nm |
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Miniaturisiertes interferentielles Winkelmessgerät ERP 1080 in Single-Chip-Encoder-Ausführung |
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Bahnsteuerung TNC 640 für kombinierte Fräs-Dreh-Bearbeitung |
| 2012 |
Absolutes Einspur-Längenmessgerät LIC 2100 |
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ERN 1387 Inkrementale Abtastung mit verbesserter Genauigkeit durch neu entwickelten Abtast-ASIC |
| 2013 |
Winkelmessgeräte für das Daniel K. Inouye Solar Teleskop (DKIST, vorher Advanced Technology Solar Telescope, ATST) |
| 2014 |
HEIDENHAIN ist weltweit in allen industrialisierten Ländern vertreten |
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Absolutes Längenmessgerät LC xx5, Messlänge bis 4 m, Messschritt 1 nm |
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Absolute Drehgeber für Anwendungen bis SIL3/PL e, EnDat 2.2-Schnittstelle und Fehlerausschluss |
| 2015 |
Interferentielles Längenmessgerät LIP 6000 mit sehr kompakter Bauform |
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Inkrementales Längenmessgerät LP 100, Messlänge bis 3 m, Messschritt 32,5 pm |
Kommentare
Mehr als 1.000 Weltmarktführer kommen aus Deutschland | Trading – Aktien 16. Januar 2016 um 12:33
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